IC680专门用于PCB/PCBA/半导体元器件表面离子污染含量的测试。

本测试仪采用循环萃取模式，把待测产品表面的离子型污染物萃取到测试溶剂中，再通过高精度的测量探头和精密的分析系统，准确测量和计算出出待测产品的单位面积的平均离子含量，自动判断离子含量是否达到要求，作为出货的检验手段或为清洗工艺的改善提供数据参考。

测试产品尺寸≤L800*W800*T100（mm)

 设备特点：

1. 使用高精度PRO级电阻率测量系统，无溶剂极化现象，保证测试的准确性。

2. 自动校准功能，无需进行复杂的计算，一步到位。

3. 静态和动态两种测试方式。

4. 特制树脂再生装置，再生速度快，使用寿命长。

5. 测试产品尺寸L800*W800*T100(mm)，适用于超大尺寸产品测试需求。

6. 全密闭测试环境，减少空气中CO₂对测试结果的影响。

7. 测试溶剂加热到40℃。

8. 浸入式循环喷淋，确保离子污染物的完全萃取。

9. 独特的管道设计和全新的元器件选型，测试效率最快。

10. 高清摄像头对溶剂液位实时监控，通过保证液位稳定，使测试获得更高的精度。

11. 操作软件简单，直观，测试过程全自动。

12. 兼容MIL-P-28809，MIL-STD-2000A，DEF-STD-10/03等国际标准。